ONLINE: "Nachhaltigkeit und Genauigkeitssteigerung an Präzisionsmaschinen und -geräten durch aktive Fehler-Kompensation"

Handy-Displays, Fernseher oder Monitore mit immer höheren Auflösungen, Elektronikplatinen mit immer höheren SMD-Packungsdichten oder auch größere asphärische Optiken erfordern eines;
nämlich immer höhere Anforderungen an die Genauigkeiten der Maschinen und Messgeräte, mit denen diese Produkte hergestellt, montiert und geprüft werden.
Dies gilt ebenso für moderne Bearbeitungs- und vor Allem für Optikmaschinen.
Neben den damit verbundenen technischen Herausforderungen bzgl. Funktion und Zuverlässigkeit sollten diese Technologien ressourcensparend und wirtschaftlich, also nachhaltig und bezahlbar, sein.

Wie aktive Fehlerkompensation funktioniert, welche Technologien man dazu benötigt und welche Bedeutung Referenzlineale in diesem Zusammenhang haben, wird einführend erläutert.

Im Schwerpunkt des Vortrags wird über die Entwicklung und den Test einer ultra-genau messenden Prototyp-Maschine (ZIM-Forschungs-Projekt) berichtet, welche zum Ziel hatte, Referenzlineale mit einer Länge von bis zu einem halben Meter auf 1/1000 Haaresbreite (max. 50 Nanometer) absolut genau auf Geradheit zu messen, was nachgewiesen werden konnte.